量測系統

掃描式電子顯微鏡(SEM)

Scanning Electron Microscope(SEM)

 

化學氣相沉積 (CVD)_1

Chemical Vapor Deposition (CVD) _1

 

化學氣相沉積 (CVD)_3

Chemical Vapor Deposition (CVD) _3

 

化學氣相沉積 (CVD)_5

Chemical Vapor Deposition (CVD) _5

 

電漿輔助化學氣相沉積 (CVD)_7

Plasma-enhanced (CVD) _7

 

超音波液相震盪機

Ultrasonic Liquid Processor

 

離心機

Centrifuge

 

微量天平

Microbalance

 

光阻塗佈機

Spinner

 

原子層沉積系統_2

Atomic layer deposition system_2

退火爐

Annealing Furnace

 

化學氣相沉積 (CVD)_2

Chemical Vapor Deposition (CVD) _2

 

化學氣相沉積 (CVD)_4

Chemical Vapor Deposition (CVD) _4

 

化學氣相沉積(CVD)_6

Chemical Vapor Deposition (CVD) _6

 

有機金屬化學氣相沉積 (CVD)_8

Metal-Organic Chemical Vapor Deposition (CVD) _8

 

蒸鍍機

Thermal Evaporator

 

CO2 臨界乾燥儀

CO2 Critical Point Dryer

 

原子層沉積系統_1

Atomic Layer Deposition System_1

 

原子層沉積系統_3

Atomic Layer Deposition System_3

 

原子層沉積系統_4

Atomic Layer Deposition System_4

 

低溫電子傳輸系統 (最低溫度=2.4K )

Low – Temperature Electrial Transport System (Critical Temperture=2.4K )

 

真空變溫電性量測系統

Temperature-variable transport measurement system

 

光致發光光譜儀

Photoluminescence spectroscopy

 

低溫電子傳輸系統(最低溫度=30mK )

Low – Temperature Electrial Transport System (Critical Temperture=30mK )

拉曼光譜儀

Raman spectroscopy